Fokusring vun der héichreineger Aluminiumoxidkammer fir Plasmaätz- a CVD-Systemer
De Fokusring vum St.Cera-Kammer ass eng wichteg Komponent vum Prozesskit, déi a Plasmaätzungs-, CVD- a PVD-Hallefleederausrüstung benotzt gëtt. De Rank, deen aus 99,8% héichreinegem Aluminiumoxid (Al₂O₃) hiergestallt gëtt, ëmgëtt de Waferrand fir de Plasma anzeschléissen an d'Ionenwénkelverdeelung ze optimiséieren, wouduerch d'Ätzuniformitéit iwwer d'Waferuewerfläch verbessert gëtt. D'Material bitt aussergewéinleche Plasmawiderstand, héich dielektresch Stäerkt (15×10⁶ V/m) an thermesch Stabilitéit bis zu 1600°C, wat eng laangfristeg Zouverlässegkeet an aggressiven Fluor- oder Chlor-baséierte Plasmaëmfeld garantéiert. Präzisiounsgeschliffene ID/OD a Flaachheet (≤10 μm) erméiglechen eng genee Positionéierung vum Waferrand, wat Kantdefekter a Partikelgeneratioun reduzéiert.
Spezifikatiounen(baséiert op 99,8% Al₂O₃):
| Immobilie | Wäert |
| Material | 99,8% Aluminiumoxid (Elfebeen) |
| Dicht | 3,93 g/cm³ |
| Waasserabsorptioun | 0% |
| Biegfestigkeit | 361 MPa |
| Bruchstähigkeit | 3–4 MPa·m¹/² |
| Vickers-Härkeet | 16 GPa |
| Young säi Modul | 380 GPa |
| Wärmeleitfäegkeet | 32 W/m·k |
| Thermesch Expansioun (25–1000°C) | 7,2 × 10⁻⁶/℃ |
| Dielektresch Stäerkt | 15×10⁶ V/m |
| Spezifesche Widderstand | >10¹⁴ Ω·cm |
| Maximal Betribstemperatur | 1600°C |
Uwendungen:
- · Fokusréng vun der dielektrescher Ätzkammer (Oxid-, Nitrid-Ätz)
- · Silikon-Ätzkammer-Randréng
- · CVD-Kammerprozess-Kit-Réng
- · PVD-Kammerschëld a Klemmréng
Fabrikatiounsprozess:
Héichreinheets-Aluminiumoxidpulver gëtt isostatesch gepresst → gréng bis zur bal definitiver Form veraarbecht → bei 1600°C gesintert → CNC-Diamantschleifen vun der Innendiameter, der Ausdehnungsdiameter an der Déckt → Läppen fir eng Flaachheet ≤10 μm z'erreechen → Ultraschallreinigung → 100% CMM-Inspektioun. Uewerflächenfinish Ra ≤0,4 μm miniméiert d'Partikelhaftung.
Qualitéitskontroll:
- · 100% Dimensiounsinspektioun (Innere Duerchmiesser, Ausdehnung Duerchmiesser, Déckt, Parallelitéit)
- · Faarfpenetratiounstest op Mikrorëss (keng Rëss erlaabt)
- · Visuell Inspektioun ënner engem 20× Mikroskop — keng Ofschielungen, Lächer oder Verfärbungen
- · Dielektresch Stäerktstest no ASTM D149 (Proufnahme)
Virdeeler géintiwwer Silizium- oder Quarz-Fokusréng:
- · 5–10x méi laang Liewensdauer am Fluorcarbonplasma
- · Keng verbrauchbar Erosiounspartikelen, déi d'Waferen kontaminéieren
- · Eng méi héich dielektresch Stäerkt verhënnert Béibildung
- · Erhält Flaachheet a dimensional Genauegkeet iwwer Dausende vun RF Stonnen
Alternativt Material — Yttrium-stabiliséiert Zirkoniumdioxid (ZrO₂):
Fir Uwendungen, déi eng méi héich Bruchstäerkt erfuerderen (z. B. Chamberen mat heefegen thermesche Zyklen oder mechanesche Schocken), sinn ZrO₂ Fokusréng (Dicht 6,03 g/cm³, Biegefestigkeit 1000 MPa, Bruchstäerkt 5–8 MPa·m¹/²) verfügbar. Aluminiumoxid bitt awer eng besser Käschteeffizienz an ass den Industriestandard fir déi meescht Fokusréngapplikatiounen.
Personnalisatioun:
- · Stufenprofiler, Verzéihungen oder Montagelächer no Zeechnung vum Client
- · Y₂O₃ Beschichtung fir verbessert Plasmaerosiounsbeständegkeet (Déckt 20–100 μm)
- · Lasermarkéierung vun der Deelnummer, dem Datumscode oder den Ausriichtungsmarkéierungen
Bemierkung:All Donnéeën entspriechen strikt der geliwwerter Al₂O₃-Eegeschaftstabell. Fir ZrO₂-Spezifikatioune kuckt w.e.g. dat geliwwert Zirkoniumdioxid-Datenblat. Fokusringdesigns kënnen eng Patentgenehmigung erfuerderen - d'Clienten sinn verantwortlech fir d'Iwwerpréiwung vun intellektuellen Eegentumsrechter.








