Säitebanner

Bernoulli Keramik-Endeffektor — Kontaktlos Waferbehandlung fir dënn a fragil Waferen

Bernoulli Keramik-Endeffektor — Kontaktlos Waferbehandlung fir dënn a fragil Waferen

Kuerz Beschreiwung:

De Bernoulli Keramik-Endeffektor vu St.Cera benotzt en aerodynamesche Lift fir Waferen ouni kierperleche Kontakt ze behandelen. Hie besteet aus héichreinem 99,8% Aluminiumoxid (Al₂O₃) oder Siliziumcarbid (SiC) a verfüügt iwwer präzis veraarbechte Düsen, déi Drockgas ausstoussen, fir e dënne Loftfilm tëscht dem Endeffektor an dem Wafer ze kreéieren. Dëst kontaktlos Prinzip eliminéiert Kontaminatioun op der Récksäit, Ofsplitterungen um Rand a Schued un der Uewerfläch, wat en ideal fir dënn (≤100 μm), fragil oder verzerrt Waferen mécht. De Keramiksubstrat bitt eng héich Biegefestigkeit (361 MPa fir Al₂O₃; bis zu 550–600 MPa fir SiC), eng niddreg Mass an eng exzellent Dimensiounsstabilitéit, wat eng widderhuelbar Positionéierung a Schnellwafertransferroboter garantéiert.


Produktdetailer

Produkt Tags

De Bernoulli Keramik-Endeffektor vu St.Cera benotzt en aerodynamesche Lift fir Waferen ouni kierperleche Kontakt ze behandelen. Hie besteet aus héichreinem 99,8% Aluminiumoxid (Al₂O₃) oder Siliziumcarbid (SiC) a verfüügt iwwer präzis veraarbechte Düsen, déi Drockgas ausstoussen, fir e dënne Loftfilm tëscht dem Endeffektor an dem Wafer ze kreéieren. Dëst kontaktlos Prinzip eliminéiert Kontaminatioun op der Récksäit, Ofsplitterungen um Rand a Schued un der Uewerfläch, wat en ideal fir dënn (≤100 μm), fragil oder verzerrt Waferen mécht. De Keramiksubstrat bitt eng héich Biegefestigkeit (361 MPa fir Al₂O₃; bis zu 550–600 MPa fir SiC), eng niddreg Mass an eng exzellent Dimensiounsstabilitéit, wat eng widderhuelbar Positionéierung a Schnellwafertransferroboter garantéiert.

Notiz zu de Materialien:Aluminiumoxid (Al₂O₃) ass dat am meeschte verbreet Material fir Keramik-Endeffektoren am Ëmgang mat Hallefleiterwafers wéinst senger exzellenter Kombinatioun aus Häert, elektrescher Isolatioun, chemescher Stabilitéit a Käschteeffizienz. Siliziumcarbid (SiC) bitt eng méi héich thermesch Leetfäegkeet, eng méi héich Häert an nach besser Verschleißbeständegkeet fir déi usprochsvollst Uwendungen. Wärend Yttrium-stabiliséiert Zirkoniumoxid (ZrO₂) eng héich Briechstäbe bei Raumtemperatur bitt, gëtt et an dëser Uwendung manner dacks benotzt wéinst senger méi héijer Dicht an ënnerschiddlechen thermeschen Ausdehnungseigenschaften; et kann fir spezifesch Szenarie berécksiichtegt ginn, wou aussergewéinlech Briechstäbe erfuerderlech ass. Consultéiert w.e.g. eis technesch Equipe fir Hëllef bei der Materialauswiel.

 

Spezifikatiounen(baséiert op 99,8% AlO):


Immobilie
  Wäert (AlO)
Material   99,8% Aluminiumoxid
Dicht   3,93 g/cm³
Biegfestigkeit   361 MPa
Bruchstähigkeit   3–4 MPa·m¹/²
Vickers-Härkeet   16 GPa
Young säi Modul   380 GPa
Thermesch Expansioun (25–1000°C)   7,2 × 10⁻⁶/℃
Maximal Betribstemperatur   800°C (Loft)
Uewerflächenrauheet (Wafer-Faceing)   Ra ≤0,4 μm

 

Betribsprinzip:

Drockloft oder Stéckstoff (0,2–0,6 MPa) gëtt duerch intern Kanäl zougefouert a kënnt iwwer Präzisiounsdüsen eraus. De beschleunegte Loftstroum erstellt eng Nidderdrockzon iwwer dem Endeffektor (Bernoulli-Effekt), wouduerch eng Hiewkraaft entsteet, déi de Wafer an enger Spalt vun 50–200 μm ënnerstëtzt. Keng Vakuumlächer oder -pads beréieren d'Récksäit vum Wafer.

 

Uwendungen:

  • · Ëmgang mat dënnen Waferen (≤50 μm) nom Réckschleifen
  • · Verformte Wafertransport (z.B. no CVD oder Glühung)
  • · Transfer vu Solarzellen a LED-Saphir-Substrat
  • · Automatiséierung vu proppere Raimlechkeeten, déi keng Partikelgeneratioun erfuerderen
  • · Ëmgang mat Glaspanneauen an der Displayfabrikatioun

 

Fabrikatiounsprozess:

Keramiksubstrat gesintert aus héichreinegem Pulver → 5-Achs CNC-Bearbeitung vu Gaskanäl an Düsenlächer (Duerchmiesser 0,3–1,0 mm, Toleranz ±0,01 mm) → Uewerflächeniwwerlappung op Ra ≤0,4 μm → Ultraschallreinigung → Helium-Dichtheetstest (Gaskanäl). Keng Beschichtung erfuerderlech - déi blank Keramikuewerfläch ass chemesch inert an net kontaminéierend.

 

Qualitéitskontroll:

  • · 100% Dimensiounsinspektioun (CMM) vun den Düsenpositiounen, der Aarmlängt an der Flaachheet
  • · Loftstroumuniformitéitstest: Drockabfall ≤5% iwwer all Düsen
  • · Leckprüfung: Gaskanäl mat 0,6 MPa versiegelt, kee Drockfall iwwer 30 Sekonnen
  • · Visuell Inspektioun ënner engem 20× Mikroskop op Mikrorëss oder Graten

 

AVirdeeler géintiwwer konventionelle Kontakt-End-Effektoren:

  • · Null Kontaminatioun op der Récksäit vum Wafer — kee mechanesche Kontakt
  • · Kee Randabschlag oder Broch vun dënne Waferen
  • · Handhabt verzerrte Waferen (bis zu 1 mm Béi) mat stabilem Spalt
  • · Eliminéiert Ënnerhalt vum Vakuumgenerator a porösen Spannfutter
  • · Keramikkonstruktioun ass resistent géint Verschleiung a chemeschen Attacken

 

Personnalisatioun:

  • · Verfügbar fir Wafergréissten vun 200 mm, 300 mm oder personaliséiert
  • · Gasdüsenmuster: riicht, gebéit oder Wirbeltypen
  • · Materialien: Aluminiumoxid (Standard) oder Siliziumkarbid (fir déi héchst Wärmeleitfäegkeet a Verschleißbeständegkeet)
  • · Aarmlängt, Montageflansch a Gasanschlusspositioun laut OEM-Zeechnung

 

Aschränkungen:

D'Ëmsetzung vum Bernoulli-Prinzip (Düsendesign, Loftspalt) geet iwwer de Kader vun den uginnene Materialeegeschaftstabellen eraus. Déi uewe genannte mechanesch an thermesch Eegeschafte respektéieren strikt déi uginn Datenblieder fir 99,8% Al₂O₃. Op Basis vun dëse Materialeegeschafte gëtt keng Leeschtungsverschlechterung vun der Keramik ënner Drockgasfloss erwaart. Fir Waferen, déi empfindlech op Gasfloss reagéieren (z.B. MEMS mat fragilen Strukturen), sollten de Gasdrock an den Düsendesign deementspriechend ugepasst ginn.


  • Virdrun:
  • Weider: